Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2014
Samuel Chef : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01079552
Soumis le : lundi 3 novembre 2014-10:33:46
Dernière modification le : jeudi 25 juillet 2024-11:36:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01079552 , version 1
Citer
Samuel Chef, Bastien Billiot, Sabir Jacquir, Kevin Sanchez, Philippe Perdu, et al.. Pattern image enhancement by extended depth of field. Microelectronics Reliability, 2014, 54 (9-10), pp.2099-2104. ⟨hal-01079552⟩
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